Nicomp 380 激光粒度仪系列

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Nicomp 380 激光粒度仪系列

Nicomp 380系列纳米激光粒度仪采用动态光散射原理检测分析样品体系的粒度分布。其主要用于检测纳米级别的体系和其他胶体体系,其粒径检测范围0.3 nm-10μm。Nicomp 380系列对数据的分析不仅仅包括传统的高斯(Gaussian)算法,还使用了专利的Nicomp多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀的分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势,高分辨率的特性遥遥领先于同类产品。Nicomp 380系列纳米激光粒度仪采用优秀的工业模块化设计,可灵活方便地扩展ZETA电位和其他功能,如:专利的自动稀释系统、自动进样系统、在线进样系统、多角度检测系统和各种激光器/检测器。

Nicomp 380 N3000 Basic 纳米激光粒度仪
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Nicomp 380 N3000 Standard 纳米激光粒度仪
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Nicomp 380 N3000 Plus 纳米激光粒度仪
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Nicomp 380 Z3000 Basic zeta电位及纳米粒度仪
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Nicomp 380 Z3000 Standard 纳米粒径与Zeta电位分析仪
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Nicomp 380 Z3000 Plus 纳米粒径与Zeta电位分析仪
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Nicomp 380 DLS 纳米激光粒度仪
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Nicomp 380 ZLS 纳米激光粒度仪及ZETA电位分析仪
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