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Nicomp 3000系列纳米激光粒度仪

  • 产品当前状态:初代

    Nicomp动态光散射(DLS)系统可检测0.3 nm到10μm的粒度分布及zeta电位。Nicomp 系统搭载着Nicomp 多峰算法,解决了复杂体系样本颗粒分布检测的难题。它可以将一个次峰从主峰的尾巴中分离出来,帮助研究人员确定样本主要成分的颗粒度大小。当尝试开发新材料时,这是一个至关重要的参数,这将很大程度上影响产品的最终性能。



    下图为同一复杂体系样品分别在高斯算法和Nicomp算法所呈现的结果。

     

    图1∶高斯粒径分布图

    图2∶Nicomp多峰粒径分布图


    Nicomp可搭配ZETA电位模块对样品的Zeta电位进行测量。电势是粒子表面电荷,这也是分散体系稳定性的重点评估依据。ZETA电位接近零的分散体通常不稳定,容易聚集或者相分离。ZETA电位的绝对值越高,表明稳定性越好。Nicomp使用基于相位分析光散射(PALS)技术来测量粒子运动,非常的灵敏。测量可以在低电场强度下进行,这对敏感型样品,如蛋白质或其他生物分子来说要温和得多。ZETA电位最常见的用途是间接反映体系稳定性,判断基团修饰结果。ZETA电位是非常重要的指标,可分析哪种配方随着时间的推移会更稳定。


             


    Nicomp 3000 还可搭配多角度检测模块,可更全面、更灵敏捕捉到样品体系真实差异。下图为两种不同制备方法制备BSA蛋白质粒径分布测试结果;图5选用90度检测角进行测试a,b分别为ColdPrep.和HotPrep.制备所得Nicomp其粒径分布测试站果,如图所示,对比1a和1b可知,两种制备方法制者的蛋白质在8nm左右均有峰,此值为蛋白质的常规粒径;除此之外,在50nm处1a和1b均有峰,但是峰型不是很明显;此处推测是置白聚集物质;


     


    图6选用20度检测雨进行测试,对比2a和2b可知,两种制备方法制备的蛋白质在8nm左右均有峰;除止之外,2a在80nm处有峰,2b在265nm处有峰,且峰型明显;对出90度和20度角测试结果;在8nm处均有峰,说明对于蛋白质的主体粒径分布两者测试一致;测试角度从90度变成20度后,较大粒径处峰型更加明显,且对于不同样品能明显区分;说明进用小角度检测对于蛋白质聚集的测试更为准确和灵敏;选用多角度模块,可更全面,更灵收捕捉到样品体系真卖差异。


    Nicomp 3000 还具有较高分辨的纳米检测,通过蛋白质样品的检测,Nicomp 3000 纳米激光粒度仪对于小于10nm的粒子,依然显示较高的分辨率和准确度。Nicomp 3000纳米激光粒度仪的较高分辨率可以有效帮助研究人员更准确更真实地检测出样品粒度分布。


    如图,单聚体蛋白的粒径大小为1.7nm

    蛋白质双聚体的理论粒径大小为1.7nm的两倍3.4nm。如上图,Nicomp 3000 测得的结果为2.9nm,这个数值符合实际粒径大小。

    针对更复杂的蛋白质四聚体,其理论粒径为单聚体的4倍6.8nm。如左图,Nicomp 3000 测得的结果为5.7nm,这个数值符合实际粒径大小。

    将上述三个数据叠加,我们可以清晰的看到在10nm以下仍然能得到粒径相差小的3个峰,显示Nicomp 3000有较高的分辨率和准确度。


    Nicomp 仪器多模块设置

    大功率激光器模块

    配量不同功率的激光发生器,充分适配不同类型的复杂样本检测,采用大功率激光器,测试灵敏度和耐用性更佳。

    双控温模块

    0℃-90℃样品温度控制,同时控制光源湿度,增加激光光源使用寿命,增加连续测试时间。

    多角度检测模块

    Nicomp3000系列可以配置范围在10°-175°,步长0.7"的多角度模块,通过调节角度进行检测,可提高对高龍粒子多分散体系粒径分析的精调度。

    内置滤波片

    可根据样品浓度自动调节激光透过量,达到合适光强值用于样品测试;大数据调节光强,对样品浓度范围适应性更强。

    双列直插式纯钯电极

    ZETA电位分析仪模块采用双列直通式钯电极,简洁方便,易于清洗,灵敏度高,经久耐用,

    双检测器模块

    Nioomp3000系列纳米激光粒度仪可以装备高灵敏度的光电倍增管检测器以及军品煅的雪扇二极管检测圈(相比较传统的光电倍增管有7-10倍放大增益放果)。


  • Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪采用动态光散射原理检测分析样品的粒度分布。基于多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS)检测ZETA电位。其主要用于检测额纳米级别及亚微米级别的体系,粒径检测范围0.3nm-10μm,ZETA电位检测范围为+/-500mV。动态光散射方法(DLS)从传统的光散射理论中分离,关注光强随着时间的波动行为。我们通过光强值的波动得到自相关函数,从而获得衰减时间常量 T,根据公式换算获得粒子的扩散速度 D(Diffusion,扩散系数)


    Stokes-Einstein方程∶

    D=kT/6rnR

    D=扩散系数  T=温度

    R=粒子半径 η=粘度

    k=玻尔兹曼常数

    粒径检测原理图



    Zeta电位的检测时,在样品插入电极,施加电压,根据样品中电荷的迁移方向确认电荷正负性,根据迁移速率确认Zeta电位绝对值。Nicomp Z3000设备集成两种Zeta电位算法:频谱分析法和相位分析法。相位分析法在很大程度上解决了频谱分析仪在高盐体系,有机相体系检测中的局限性,PSS也是首家将相位分析法应用于Zeta电位检测。


    Zeta电位检测原理图


  • Nicomp N3000纳米粒度分析仪
    配置Standard 标准版Plus 高配版Plus+ 顶配版
    温度范围0℃~90℃(±0.1℃控温精度,无冷凝)
    标准激光15mW激光光源35mW激光光源15mW激光光源
    PH值范围1~14
    粒度 
    分析方法动态光散射,Gaussian分布和Nicomp多峰分布
    检测范围3nm~10μm
    最小样品量10μL
    最大浓度40%W/V
    测量角度90°90°90°
    分子量342-2*107 Da
    附件 
    检测器PMT(光电倍增管)APD(雪崩二极管)PMT(光电倍增管)
    样品池
    科研级软件
    21 CFR Part11软件
    自动进样模块//
    自动稀释模块//
    磁力搅拌模块//
    尺寸56cm*4lcm*24cm
    重量约26kg(与配置相关)
        
    注:以实际样品为准标配,随箱自带选配,单独购买




     
    Nicomp Z3000纳米粒度及ZETA电位分析仪
     配置
    Standard 标准版
    Plus 高配款
     
    温度范围
    0℃~90℃(±0.1℃控温精度,无冷凝)
     
    标准激光
    15mW激光光源
    35mW激光光源
     
    pH值范围
    1~14
     
    粒度
     
     
    分析方法
    动态光散射,Gaussian分布和Nicomp多峰分布
     
    检测范围
    3nm~10μm
     
    最小样品量
    10μL
     
    最大浓度

    40%w/V

     
    测量角度
    90°

    多角度

    (10°~175°,包含90°,步进0.7°)

     
    分子量
    342-2*107 Da
     Zeta电位 
     分析方法
    多普勤频谱分析法/相位分析法
     适用粒径
    0.3nm~100μm
     电位范围
    >±500mV
     最大浓度40%w/v
     测量角度-14.9°
     附件 
     检测器
    PMT(光电倍增管)
    APD(雪崩二极管)
     
    样品池
     
    科研级软件
     双列直插式钯电极
     
     
    21CFR Part11软件
     
    自动进样模块
    //
     
    自动稀释模块
    //
     
    多角度检测模块
    /
     尺寸
    56cm*4lcm*24cm
     重量
    约26kg(与配置相关)
       
     注:以实际样品为准标配,随箱自带选配,单独购买
  • 配件


    大功率激光二极管

    PSS使用一系列大功率激光二极管来满足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射,以便从小粒子出货的足够的入射光。15mW, 35mW, 50mW, 100mW — 波长为635nm 的红色二极管。20 mW 50 mW 和 100 mW 波长为 514.4nm的绿色二极管。

    雪崩光电二极管检测器

               (APD Detector)

    提供比普通光电倍增管(PMT)高3-5倍的灵敏度。

    自动稀释系统模块

    将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度,可稀释初始固含量为50%的原始样品

    多角度检测系统模块(选配)

    提供多角度的检测能力。使用高精度的步进电机和针孔光纤技术可对散射光的接收角度进行调整,可为微粒粒径分布提供可高分辨率的多角度检测。对高浓度样品(≤40%)以及大粒子多分散系的粒径提供了提供15至175度之间不同角度上散射光的采集和检测。

    自动进样器(选配)

    批量自动进样器能实现最多76个连续样本的分析而无需操作人员的干预。因此它是一个非常好的质量控制工具,能增大样品的处理量。大大节省了宝贵的时间。

    样品池

    标准4 mL样品池(1cm×4cm,高透光,石英玻璃或塑料);1mL样品池(玻璃,高透光率微量样品池,最小进样量10μL)

  • 应用领域

     

    纳米载药

    纳米药物研究近些年主要着重在药物的传递方向并发展迅猛,纳米粒的大小可以有效减少毒性和副作用。所以,控制这些纳米粒的粒径大小是非常必要的。

    磨料

    磨料既有天然的也有合成的,用于研磨、切削、钻孔、成形以及抛光。磨料是在力的作用下实现对硬度较低材料的磨削。磨料的质量取决于磨料的粗糙度和颗粒的均匀性。

    化学机械抛光液(CMP SLURRY)

      化学机械抛光是半导体制造加工过程中的重要步骤。化学机械抛光液是由腐蚀性的化学组分和磨料(通常是氧化铝、二氧化硅或氧化铈)两部分组成。抛光过程很大程度上取决于晶片表面构型。晶片的加工误差通常以埃计,对晶片质量至关重要。抛光液粒度越均匀、不聚集成胶则越有利于化学机械抛光加工过程的顺利进行。

    陶瓷

    陶瓷在工业中的应用非常广泛,从砖瓦到生物医用材料及半导体领域。在生产加工过程中监测陶瓷颗粒的粒度及其粒度分布可以有效地控制最终产品的性能和质量。

    粘土

    粘土是一种含水细小颗粒矿物质天然材料。粉砂与粘土类似,但粉沙的颗粒比粘土大。粘土中易于混杂粉砂从而降低粘土的等级和使用性能。ISO14688定义粘土的颗粒小于63μm。

    涂料

    涂料种类繁多,用途广泛。涂料的颗粒大小及粒度分布直接影响涂料的质量和性能。

    污染物监测

    粒度检测分析在产品的污染监测方面起着重要作用,产品的污染对产品的质量影响巨大。绝大多数行业都有相应的标准、规程或规范,必须严格遵守和执行,以保证产品满足质量要求。

    化妆品

    无论是普通化妆品还是保湿剂、止汗剂,它们的性能都直接与粒度的大小和分布有关。化妆品的颗粒大小会影响其在皮肤表面的涂抹性能、分布均匀性能以及反光性能。保湿乳液(一种乳剂)的粒度小于200纳米时才能被皮肤良好吸收,而止汗剂的粒度只有足够大时才能阻塞毛孔起到止汗的作用。

    乳剂

    乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系,通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型,一种是水分散在油中,另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶(水包油型)和黄油(油包水型),加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。

    食品

    食品的原料(粉末及液体)通常来源于不同的加工厂,不同来源的原料必须满足某些特定的标准以使最终制品的质量均一稳定。原料性质的任何波动都会对食品的口味和口感产生影响。用原料的粒度分布作为食品质量保证和质量控制(QA/QC)的一个指标可确保生产出质量均以稳定的食品制品。

    液体工作介质/油

    液体工作介质(如:油)越来越昂贵,延长液体介质的寿命是目前普遍关心的问题。机械设备运转过程中会产生金属屑或颗粒落入工作介质中(如:油浴润滑介质或液力传递介质),因此需要一种方法来确定介质(油)的更换周期。通过监测工作介质(油)中颗粒的分布和变化可以确定更换工作介质的周期以及延长其使用寿命。

    墨水

    随着打印机技术的不断发展,打印机用的墨水变得越来越重要。喷墨打印机墨水的粒度应当控制在一定的尺度以下,且分布均匀,大的颗粒易于堵塞打印头并影响打印质量。墨水是通过研磨方法制得的,可用粒度检测分析仪器设备监测其研磨加工过程,以保证墨水的颗粒粒度分布均匀,避免产生聚集的大颗粒。

    胶束

    胶束是表面活性剂在溶液中的浓度超过某一临界值后,其分子或离子自动缔合而成的胶体尺度大小的聚集体质点微粒,这种胶体质点与离子之间处于平衡状态。乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO2纳米管(TNAs)等

     

  • 尊敬的用户您好,在对仪器还不了解的情况下,为了让您可以选择一款适合贵单位的设备,可以先寄送样品到我们公司,由我们的技术人员帮您测试样品,并将测试结果和数据报告发送到您邮箱或者将纸质版寄送到贵单位。

     

    下方链接是测试申请表,请下载填写完整后随样品一起寄送过来。

    下载链接在这里邮寄地址:中国上海闵行区漕河泾浦江高科技园 F区 新骏环路588号23幢402室

    邮编:201204
    联系人:吴先生(请备注样品)
    电话:021-5091 1766

     

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上海奥法美嘉公司 / 美国PSS粒度仪