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PSS A7000 APS-DLS 激光粒度仪
光阻法模块结合动态光散射模块
专利自动稀释技术,实现动态大范围检测

基本信息

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仪器型号:PSS A7000 APS-DLS

工作原理:单颗粒光学传感技术(Single Particle Optical Sizing,SPOS)

动态光散射理论(Dynamic Light Scattering, DLS)


检测范围: 6nm-2500μm

     

PSS A7000 APS-DLS全自动激光粒度仪开创性的将光阻法和动态光散射法结合在一起,集自动进样、自动稀释、自动检测、数据处理以及自动清洗等全自动检测功能于一身,为用户提供可方便、快捷、高效、可靠的粒径分析,其测量范围可达6nm - 2500 μm。

A7000 APS-DLS搭载光阻法检测模块和动态光散射模块,将瑞利散射理论和光阻理论有机结合在一起,不仅能对较大的亚微米级别的粒子进行颗粒计数,更能检测纳米级别的样本的粒度分布。在传统的经典光散射(激光衍射,Laser Diffraction)之外,对于高分散体系多了一个选择。



技术优势


  • 检测范围广6 nm - 2500μm;

  • 高分辨率,高灵敏性,统计精度高;

  • 双模块化设计,既能独立工作,又能有机组合;

  • 集自动进样、自动检测、数据处理以及自动清洗等自动化功能与一身;


高分辨率

分辨率,在这里指的是分辨同一体系内不同粒径大小的能力。得益于超前的设计理念和软硬件组合,SPOS技术除了能够呈现完全不同于经典光散射的颗粒计数分布外,相对于经典的电阻法和光阻法,具有更高的分辨率和精准性。它不会错过任何颗粒细节,而这些细节往往是决定产品好坏的标准。

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图1高分辨率展示


     

如图1所示,同一个样本中混合0.7μm,0.8μm,1.3μm,2μm,5μm,10μm,15μm,20μm,50μm,100μm,200μm 11种标准PSL粒子,SPOS技术可以很容易将每种不同大小的标粒区分清楚。

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图2 SPOS VS Laser diffraction

  图2展示了同一个样本在SPOS技术和激光衍射法(Laser diffraction,LD)粒度仪中测得的结果。样本使用的是过400目筛(37μm)的样本。SPOS技术(绿色线)显示在35μm以上是没有粒子的,这和实际情况相符。但是使用LD检测得到的仅仅是“相似”的分布,但是在100μm本来没有颗粒的情况下却给出了还有大量大颗粒的假性结果。

高灵敏度

APS-DLS系统提供了超高的灵敏度,依托于SPOS技术,哪怕只有一颗颗粒,也不会放过,灵敏度可以达到10PPT等级。高灵敏度确保了样品检测的细节不被忽视,满足了制造业升级过程中,除了粒径检测的需求外,还要对或大或小的游离颗粒的控制,无论是半导体行业尾端大颗粒对良率的影响,还是锂电行业正负极材料小颗粒对安全性的危害。APS-DLS系统都可以准确识别,为高端制造业保驾护航。


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图3 高灵敏度展示

图3展示了一个样本检测前,仅加入10μL的50μm标准乳胶粒子,混合好后进行检测,如图所示仪器依旧很准确的检测出来,并且告知加入的50μm标粒仅有33颗,粒径是50.127μm。


高效的粒度分析

APS-DLS系统的高灵敏度、高分辨率不仅带来了更为接近真实情况的粒径分布,同时检测快速,节省客户时间,仅需几分钟,既可获得检测结果。同时仪器支持自动进样、自动清洗、自动稀释等功能,将大大提高实验室工作效率,帮助他们为半导体,乳剂,粉体客户更快地获得重要结果。

APS-DLS系统同样支持在线系统,集成在产线中的关键监控点,实时检测粒度结果,发现异常,及时处理,降低工作成本,简化工作流程。


真实的粒径分布

粒粒皆清楚,不丢失任何细节。

不同行业对粒度检测的需求其实一直各有侧重点,为了获得更真实的粒径结果,往往需要通过电镜等仪器进行分析,但存在着统计数据不足以及不利于规模化检测的弊端。为了满足大量即时的检测需求,经常以牺牲精确性和分辨率来换取检测速度和易用,但仅能获得平均粒径以及分布的检测已无法满足现在行业的发展。

APS-DLS系统对于细节的把控,可以确保检测结果最接近真实的情况,帮助质量形成统一的标准方案,监控批间差异,稳定产品质量。

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图4 较均匀的样品SPOS VS 电镜下扫描结果

 

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图5 不均匀的样品SPOS VS 电镜下扫描结果

图4和图5展示了一个均匀的样本和一个不均匀的样品在SPOS技术及电镜下的检测结果。均匀的样本在电镜下颗粒之间大小较为相似,相应的SPOS技术检测可见谱图较窄。而不均匀的样本,电镜下可以看到大大小小的颗粒,相应SPOS技术检测的结果出现高高低低的峰,与电镜结果可直接对应。